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一种基于新型ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器

一种基于新型ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器

  • 201822041586.2    去官网认证

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专利概述

专利名称

一种基于新型ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器

专利介绍

本实用新型提供一种基于新型ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器,该探测器从下至上依次包括衬底层、SnO2薄膜层、嵌入SnO2薄膜层的ZnO纳米柱,以及包覆在SnO2薄膜层、ZnO纳米柱上的Pt量子点和设置在两端的电极,该探测器的响应时间为5‑10s,能够同时对乙醇、CO、NO气体进行探测,探测极限为5‑10ppm。本实用新型适用范围广,可以在多种衬底上制备ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器,本实用新型提供的探测器同时含有ZnO和SnO2两种有效探测材料体系,具有双波段选择性光探测或同时对两种特殊的气体进行选择性检测;该探测器同时包含有ZnO纳米柱阵列和SnO2多孔薄膜,有利于提高探测的灵敏度。

专利详情

一种基于新型ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器,其特征在于:从下至上依次包括衬底层、SnO2薄膜层、嵌入SnO2薄膜层的ZnO纳米柱,以及包覆在SnO2薄膜层、ZnO纳米柱上的Pt量子点和设置在两端的电极,所述的ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器的响应时间为5‑10s,所述的ZnO纳米柱/SnO2薄膜探测器能够同时对乙醇、氢气、丙酮、CO气体进行探测,探测极限为5‑10ppm。

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